
產(chǎn)品型號:
更新時間:2026-07-16
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪 問 量 :37
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產(chǎn)品分類
普泰克 水冷gpu測試溫控解決方案介紹
在AI算力與高性能計算快速發(fā)展的背景下,GPU芯片的功率密度持續(xù)提升,單顆芯片功耗已可達(dá)數(shù)百瓦乃至上千瓦級別。芯片在高負(fù)載運行下產(chǎn)生的大量熱量,若不能及時且精準(zhǔn)地帶走,將直接影響測試數(shù)據(jù)的可靠性以及芯片的長期穩(wěn)定性。普泰克水冷GPU測試溫控系統(tǒng),旨在為高功耗GPU的可靠性驗證、老化測試及性能評估等環(huán)節(jié),提供一套具備較好響應(yīng)性能與控溫一致性的液冷溫控方案。
一、應(yīng)用場景與技術(shù)挑戰(zhàn)
GPU芯片在高算力工況下具有功率密度大、熱負(fù)載變化劇烈的特性,這對測試環(huán)節(jié)的溫控能力提出了較為嚴(yán)格的要求。傳統(tǒng)測試溫控方式在面對快速波動的熱負(fù)荷時,可能存在溫控滯后的情況,導(dǎo)致無法真實模擬芯片的實際工況。普泰克聚焦GPU芯片動態(tài)溫控測試需求,通過液冷方式直接為芯片或測試平臺提供溫度較為穩(wěn)定的循環(huán)冷卻介質(zhì),適用于產(chǎn)品電性能、可靠性及老化等測試場景。
二、普泰克 水冷gpu測試技術(shù)特點簡述
針對高功耗芯片設(shè)計:系統(tǒng)可適用于對散熱有較高要求的GPU測試場景,通過液體循環(huán)直接帶走發(fā)熱源的熱量,相比傳統(tǒng)風(fēng)冷方式,在散熱效率和響應(yīng)速度方面具有一定優(yōu)勢。
較寬的溫度覆蓋范圍:部分解決方案支持較寬的工作溫度區(qū)間,例如可覆蓋-40℃至+100℃甚至更寬范圍,可根據(jù)測試需求進(jìn)行一定程度的定制。部分氣體制冷方案可實現(xiàn)-70℃至+180℃的溫區(qū),滿足電子元器件的異常環(huán)境測試需求。
多參數(shù)協(xié)同控制:系統(tǒng)通常集成溫度、壓力、流量傳感器,可實現(xiàn)控溫、控壓、控流量等多功能協(xié)同,適配不同測試工況下的差異化需求。
快速溫變能力:部分方案支持較快的溫度切換,有助于模擬芯片在實際運行中可能遇到的溫度沖擊場景,提升測試的覆蓋面和有效性。
全密閉循環(huán)設(shè)計:采用全密閉式系統(tǒng),循環(huán)管路與外界空氣隔離,有助于減少導(dǎo)熱介質(zhì)在高溫下的氧化與揮發(fā),同時降低低溫工況下吸收水分的可能,對維持系統(tǒng)長期運行狀態(tài)的穩(wěn)定有一定幫助。
擴(kuò)展與定制選項:部分機型支持多路獨立輸出控制,單臺設(shè)備可同時為多顆GPU或多路測試負(fù)載提供溫控支持。根據(jù)現(xiàn)場環(huán)境,也可提供風(fēng)冷或水冷散熱方式選擇,以及防爆定制方案。

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